Зведений каталог бібліотек Харкова
Таланин, В. И. Об идентичности процессов дефектообразования в малогабаритных монокристаллах FZ-Si и CZ-Si [Текст] / Запорожская государственная инженерная академия // Известия вузов. Материалы электронной техники. — 2003. — С. 30-34.
- Анотація:
С помощью просвечивающей электронной микроскопии и оптической микроскопии проведены исследования бездислокационных монокристаллов кремния, полученных методом Чохральского.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Материалы электронной техники. [Текст] // Известия вузов. Материалы электронной техники ; Министерство образования РФ - М. : МИС и С. — 2003.
- Теми документа
