Зведений каталог бібліотек Харкова
Романов, В. Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний. [Текст] / В. Романов // . — С. 7-9.
- Є складовою частиною документа:
CHIP News [Текст] = Инженерная микроэлектроника. : Научно-технический журнал // CHIP NEWS - К. : НПК "ТИМ", ООО "Булавиа-Посад". — К. : НПК "ТИМ", ООО "Булавиа-Посад", 2003.
