Зведений каталог бібліотек Харкова
Таланин, И. Е. Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов. [Текст] / Запоржская государственная инженерная академия // . — С. 50-53.
- Анотація:
Проведен анализ контраста электронно - микроскопических изображений D-микродефектов в бездислокационных монокристаллах FZ-Si и CZ-Si.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Материалы электронной техники. [Текст] // Известия вузов. Материалы электронной техники ; Министерство образования РФ - М. : МИС и С. — 2004.
- Теми документа
