Рассмотрены физические механизмы деградации компонентов бортовой электроники при воздействии ионизирующего излучения космического пространства. Предложена упрощенная модель и метод экспресс оценки дозовой зависимости пороговых напряжений МОП-транзисторов при разных интенсивностях облучения.
