Рассмотрен метод численного исследования частотных зависимостей параметров сверхвысокочастотных (СВЧ) приборов и физических процессов в них, который может быть охарактеризован как "спектральный". Дан анализ нестационарных моделей СВЧ-приборов различных уровней , пригодных в качестве основы такого метода. Даны примеры использования спектрального подхода.
