Рассмотрены вопросы снижения энергопотребления генератора псевдослучайных тестовых наборов для основанного сканирования встроенного самотестирования цифровых устройств. Предлагается новая структура генератора, который позволяет формировать тестовые воздействия при меньших енергетических затратах. Основная идея предлагаемого подхода заключается в формировании нескольких тестовых символов за один такт работы схемы.
