Запропоновано нову методику дослідження параметрів діелектриків для ближньопольової мікрохвильової мікроскопії, яка забезпечує високу роздільну здатність реєстрації малих неоднорідностей діелектричної проникності. В основі методики лежить використання багатомодового мікрохвильового кільцевого генератора, в якому зсув частот мод генерації залежить від діелектричної проникності досліджуваного зразка.
