Предложен подход к оценке вероятности катастрофических отказов полупроводниковых приборов, подвергаемых воздействию мощных СВЧ-импульсов, при знании законов распределения случайных параметров, характеризующих стойкость данных приборов и мощное СВЧ-излучение.

Радиотехника [Текст] // Радиотехника ; Российское научно-техническое общество радиотехники, электроники и связи им.Попова А.С. - М. : Радиотехника. — 2004.

• УДК // Провідники та напівпровідники залежно від матеріалу виготовлення