Зведений каталог бібліотек Харкова
Апрелов, С. А. Фрактальный анализ упорядоченности поверхностных микроструктур. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 25-31.
- Анотація:
Рассмотрены подходы к выявлению порядка/беспорядка поверхностных обьектов на примере полученных с помощью ионной имплантации структур CoSi2 и SiGe.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2005.
- Теми документа
