Романов, В.     Количественная оценка надежности интегральных микросхем с учетом математической модели отказов. [Текст] / В. Романов // Электронные компоненты и системы. — 2005. — №4. — С. 4-7.

Наявність
Установа	Кількість	Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського		Перейти на сайт