Для обнаружения слабых особенностей в туннельных характеристиках предложен метод, альтернативный обычно используемому в этом случае модуляционному методу, основанный на измерении вольт-амперной характеристики на постоянном токе и последующей цифровой обработке. Описаны аппаратурные и программные средства реализации этого метода и его преимущества в частном случае туннельных исследований полупроводников под давлением.
