Дано описание разработаннных в Институте радиотехники и электроники РАН рефлектометров, позволяющих измеряь с высокой точностью амплитуду и фазу коэффициентов отражения от образцов, а также диэлектрическую и магнитную проницаемостина сантиметровых и миллиметровых волнах.
