Зведений каталог бібліотек Харкова
Бельский, М. Д. Расчет технологических допусков в электростатических линзах для электронно-лучевых микроколонн. [Текст] / НИИ перспективных материалов и технологий МГИЭиМ. // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 76-83.
- Анотація:
Построены математические модели для возмущений полей и траекторий электронов, вызванных погрешностями изготовления диафрагменных фокусирующих структур.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2006.
- Теми документа
