| | Любченко, В. Е. Методика измерения параметров тонких полупроводниковых пленок на подложках из высокоомного полупроводника с помощью миллиметровых волн [Текст] / В.Е. Любченко, В.В. Мериакри, Е.Е. Чигряй // Электромагнитные волны и электронные системы. — 2006. — С. 63-65. |
| | |
|