Зведений каталог бібліотек Харкова
Неустроев, А. С. Сопоставление рентгеновского и пиксометрического методов оценки качества слоев нитрида алюминия. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники. // . — С. 92-93.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2006.
- Теми документа