Зведений каталог бібліотек Харкова

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

539
А64Сих, М. П.
    Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Текст] : пер. с англ. / под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха. — М. : Мир, 1987. — 600 с.

Автор: Сих М.П., Бриггс Д., Ривьер Дж.К., Хофман С., Олсон Р.Р

- Теми документа

  • УДК // Властивості та структури, виявлені за допомогою рентгенівських променів. Виявлення тонкої структури



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського 2 Перейти на сайт