Рассмотреноиспользование численных методов для оценки составляющих инструментальной и методической погрешностей измерений параметров кристаллической структуры с помощью рентгеновского дифрактометра. Установлены критерии применения эталонных образцов для исключения инструментальных погрешностей.
