Зведений каталог бібліотек Харкова
Аль, Мади Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагнострирования запоминающих устройств [Текст] / Мади Аль, В.А. Андриенко, В.Г. Рябцев // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. — 2006. — С. 134-137.
- Анотація:
Предложен метод выбора паретно-оптимальных тестов, основанный на нечетких априорных данных, что позволяет учитывать опыт квалифицированных специалистов в области диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств.
- Електронні версії документа:
- Є складовою частиною документа:
Радіоелектронні і комп'ютерні системи [Текст] // Радіоелектронні і комп'ютерні системи ; М-во освіти і науки України, Нац. аерокосм. ун-т ім. М. Є. Жуковського "Харк. авіац. ін-т" - Х. : ХАІ. — 2006.
- Теми документа
