Зведений каталог бібліотек Харкова
Аникин, А. В. Рентгеновская диагностика структуры и глубины повреждений в механически обработанных пластинах сапфира [Текст] / ОАО "ЭЛМА" // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 89-90.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2006.
- Теми документа
