Рассмотрены методы измерения основных параметров низкочастотногошума полупроводниковых изделий и предложены вариантыустройств для контроля шумовых характеристикмикросхем, дискретных транзисторов и других полупроводниковых устройств.

Измерительная техника [Текст] : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — М.

• УДК // Напівпровідникові елементи/Электронные полупроводниковые приборы/Electronic semiconductor devices
• УДК // Провідники та напівпровідники залежно від матеріалу виготовлення