Зведений каталог бібліотек Харкова
Сысоев, Е. В. Метод частичного сканирования коррелограмм для измерения микрорельефа поверхностей [Текст] / Е.В. Сысоев // Автометрия : научно-технический журнал / РАН, Сиб. отд-ние; Ин-т автоматики и телеметрии. — С. 107-115.
- Анотація:
Представлен метод измерения микропрофиля поверхности с нанометровым расширением, основанный на неполном сканировании коррелограмм в интерферометре
- Є складовою частиною документа:
Автометрия [Текст] : научно-технический журнал / РАН, Сиб. отд-ние; Ин-т автоматики и телеметрии. — Новосибирск : Изд-во СО РАН.
- Теми документа
