Поряд з натурним проектуванням досить часто в теперішній час використовують віртуальні методи проектування, які передбачають здійснення попереднього розрахунку параметрів пристрою, що проектується. До таких параметрів відноситься надійність. Для цього у складі віртуальної лабораторії автоматизованого проектування, яку створено в Інституті кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України, розроблено модуль для розрахунку параметрів надійності як окремих мікроелектронних компонентів, так і цілих пристроїв. В основу роботи модуля покладено дві методики розрахунку параметрів надійності: на основі експоненціального закону розподілу ймовірностей відмов і на основі DN-розподілу ймовірностей відмов. Наявність теоретичного матеріалу, опису методик розрахунку і інших довідкових матеріалів дає можливість використовувати даний модуль не тільки в наукових дослідженнях і при проектуванні, але і у навчальному процесі.
