Зведений каталог бібліотек Харкова
Жаднов, В. Прогнозирование безотказности микросхем для военной и аэрокосмической электроники [Текст] / В. Жаднов, С. Полесский, С. Якубов // Электронные компоненты. — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2007. — С. 39-48.
- Анотація:
На ранних этапах проектирования оценка надежности проводится расчетными методами , основанными на математических моделях эксплуатационной интенсивности отказов. В статье рассматриваются отечественные и зарубежные методики расчета и прогнозирования безотказности микросхем и приводятся примеры их применения.
- Є складовою частиною документа:
Электронные компоненты [Текст] // Электронные компоненты - М. : ЗАО "КОМПЭЛ". — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2007.
- Теми документа
