Варенцов, М. Д.     Відпал кластерів дефектів у зразках Si та Si(Ge), вирощених методом Чохральського [Текст] / Інститут ядерних досліджень НАН України // Український фізичний журнал. — 2007. — С. 372-377.

Наявність
Установа	Кількість	Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського		Перейти на сайт