Мелебаев, Д.     Новые возможности фотоэлектрического метода определения высоты барьера в структурах Au-n-GaAs [Текст] / Д. Мелебаев, Г.Д. Мелебаева, Ю.В. Рудь, В.Ю. Рудь // Технология и конструирование в электронной аппаратуре  : научно-технич. журнал / АО "Нептун". — С. 33-37.