Описана реализованная на нейтронном пучке методика исследования неоднородностей вещества с использованием двухкристального спектрометра. Параметры неоднородностей определяются на основе результатов измерения интегрального коэффициента ослабления за счет малоуглового рассеяния. Приведено теоретическое обоснование метода при использовании нейтронного излучения, определены границы его применимости.