Зведений каталог бібліотек Харкова
ChunYun, Wu Using genetic algorithms to detect interfacial cracks based thermal resistance for multilayer materials [Текст] / Wu ChunYun, Chang Wen // Дефектоскопия / Академия Наук СССР. — Свердловск : Наука, 2007. — С. 71-84.
- Є складовою частиною документа:
Дефектоскопия [Текст] / Академия Наук СССР // Дефектоскопия - Екатеринбург : Наука. — Свердловск : Наука, 2007.
- Теми документа