Бублик, В. Т.     Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si, выращенного методом Чохральского [Текст] / Московский государственный институт стали и сплавов (технологический университет) // Известия вузов. Материалы электронной техники. — 2007. — С. 4-14.