|
Автор: Жигальский Г.П., Кострюков С.А., Литвинов В.Г., Родин М.С., Холомина Т.А.
-
Анотація:
Проведены исследования параметров глубоких центров в барьерных структурах на основе собственного арсенала галлия, используемых в детекторах зараженных частиц и рентгеновскими излучениями, методами релаксационных спектроскопии глубоких уровней и спектроскопии низкочастотного шума
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
-
УДК // Електроніка. Мікроелектроніка
| 