|
Автор: Купко В.С., Лукин И.В., Ристо В.А., Ковшов С.Б., Косенко О.А.
-
Анотація:
Описаны эталонная интерференция установки и компьютерная программа для измерений параметров шероховатости от нанометрового до миллиметрового диапазона
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
-
УДК // Вимірювання товщини, діаметра, висоти, глибини, нахилу, паралельності
|
