Предложена схема эксперимента и автоматизированная измерительная установка для исследования воздействия сверхкоротких импульсов (СКИ) на базовые элементы цифровой электроники. Показано, что воздействие СКИ на выход таких элементов может приводить к их переключению и является причиной сбоев в цифровой аппаратуре. Получены экспериментальные результаты свидетельствуют о наличии механизмов временной деградации полупроводниковых структур. Такие механизмы вносят существенный вклад в развитие процессов, приводящих к сбоям
