Показано, что представление динамического фотоотклика полупроводниковых сенсоров в виде фазовых портретов позволяет выявить области их нестабильной работы. Предложенный подход дает возможность подбирать сенсорные элементы для конкретных условий эксплуатации, осуществлять мониторинг и прогнозировать их ресурс.

Открытые информационные и компьютерные интегрированные технологии [Текст] : сб. науч. тр. / М-во образования и науки Украины, Нац. аэрокосм. ун-т им. Н. Е. Жуковского "Харьк. авиац. ин-т". — Х. : Нац. аэрокосм. ун-т им. Н. Е. Жуковского "Харьк. авиац. ин-т", 2004. — 160 с.

• Праці співробітників ХАІ // Клименко І.А./Клименко И.А.
• Праці співробітників ХАІ // Мігаль В.П./Мигаль В.П./Mygal V.
• Праці співробітників ХАІ // Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ
• Праці співробітників ХАІ // Фомін О.С./Фомин А.С.
• УДК // Фотоелектричні лампи та елементи