В статье не ставиться задача разработки практических методов оценки параметров и характеристик цифровых приемников по равномерно засвеченному рентгеновскими лучами рабочему полю приемника. Цель статьи состоит в показе принципиальной возможности такой оценки, которая позволяет объективизировать измерения и отказаться от тестов, требующих прецизионного изготовления и жесткого задания геометрии сьемки.
