Показана возможность определения толщины и спектральной зависимости комплексного показателя преломления верхних слоев сложных тонкопленочных структур на основе арсенида галлия, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии с помощью спектральной эллипсометрии.

Автометрия [Текст] : научно-технический журнал / РАН, Сиб. отд-ние; Ин-т автоматики и телеметрии. — Новосибирск : Изд-во СО РАН.

• УДК // Інтерференція.
• УДК // Нанесення металевого та неметалевого покриття. Нанесення провідникового, напівпровідникового, діелектричного, магнітного покриття та плівок, а також плівок і покриття з електричним опром. Металізація
• УДК // Прилади для вимірювання оптичних властивостей. Оптичні прилади для визначення неоптичних властивостей
• УДК // Розповсюдження світлових променів. Відбиття. Заломлення. Поглинання. Випромінювання