Зведений каталог бібліотек Харкова
Федосов, В. В. Оценка влияния разрушающего физического анализа на характеристики безотказности изделий микроэлектроники, устанавливаемых в бортовую аппаратуру космических аппаратов [Текст] / ФГУП "НПО прикладной механики им. акад. М.Ф. Решетнева" // . — С. 37-40.
- Анотація:
Предложен метод оценки влияния разрушающего физического анализа (РФА) изделий микроэлектроники на качество партий электроизделий, предназначенных для использования в аппаратуре космических аппаратов.
- Є складовою частиною документа:
Авиакосмическое приборостроение [Текст] : Ежемесячный научно-технический и производственный журнал // Авиакосмическое приборостроение - М. : Научтехлитиздат. — 2008.
- Теми документа
