Изучены особенности работы и выбора оптимальных параметров в режимах притяжения и отталкивания полуконтактного метода атомно-силовой микроскопии. Предложены автоматизированные способы оптимизации процесса измерения рельефа поверхности и фазового контраста в режиме притяжения.

Известия вузов. Материалы электронной техники. [Текст] // Известия вузов. Материалы электронной техники ; Министерство образования РФ - М. : МИС и С. — 2008.

• УДК // Вимірювання сили, роботи, тиску
• УДК // Електронні мікроскопи. Дифракційні камери