Розроблено формальну модель процесу інтелектуального діагностування мікропроцесорних пристроїв, котра забезпечує можливість формування унікальних масивів діагностичних знань, що призначені для реалізації процесу діагностування різними інтелектуальними системами діагностування з підключенням сховищ знань.
