Приведены особенности программной реализации метода выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств. Излагаются алгоритм и принцип построения программы сортировки массива структурированных данных по ключевым признакам объектов.

• http://library.khai.edu/library/fulltexts/doc/REKS708/AlMadi.pdf

Радіоелектронні і комп'ютерні системи [Текст] // Радіоелектронні і комп'ютерні системи ; М-во освіти і науки України, Нац. аерокосм. ун-т ім. М. Є. Жуковського "Харк. авіац. ін-т" - Х. : ХАІ. — 2008.

• УДК // Системи керування з детермінованими входами