Представлен анализ проблемы появления включений углерода в монокристалле карбида кремния при выращивании слитков карбида кремния SiC модифицированным методом Лэли. Показано, что процесс графитизации слитка не связан с недостатком кремния в ростовой ячейке, напротив,менно избыток кремния у поверхности роста тормозит скорость процесса роста слитка и приводит к интенсивной коррозии графитовой амплитуды.

Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2008.

• УДК // Передача електричної енергії. Енергорозподілення та телекомунікаційні лінії. Провідники. Ізоляційні матеріали. Лінійна арматура. Конструкція, спорудження ліній електропередач