Рассматривается алгоритм вейвлет-обработки инфракрасных изображений, формируемых на выходе многорядных матричных фотоэлектронных модулей (ФЭМ) с геометрическим шумом чувствительности. Показано, что дрейф коэффициентов передачи фотоэлементов матрицы ФЭМ можно рассматривать как мультипликативный шум. Целью обработки является сегментация ИК-изображений после его текстурного анализа на уровне вейвлет-преобразования, чтобы в зависимости от типа сегмента применять различные алгоритмы оценивания вейвлет-коэффициентов. Приводятся результаты статистического моделирования, показывающие возможность увеличения интервалов между калибровками ФЭМ до нескольких часов.
