Разработано устройство дли визуализации дефектов в остаточных магнитных полях с использованием тонкопленочных матричных преобразователей, принцип действия которых основан на эффекте анизотропии магнетосопротивления в ферромагнитных пленках. При одинаковой чувствительности выявления дефектов с магнитопорошковым методом устройство позволяет автоматизировать процесс контроля и повысить его производительность
