|
Автор: Аленков В.В., Белов Ю.М., Бублик В.Т., Воронин А.И., Пономарев В.Ф., Рябинин Д.Г., Табачкова Н.Ю.
-
Анотація:
Методом рентгеновской дифрактометрии изучена структура и сосотав пластин термоэлектрических материалов (ТЭМ), полученных при разной скорости кристаллизации.
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
-
УДК // Електронні напівпровідники
| 