Зведений каталог бібліотек Харкова
Чивель, Ю. А. Система мониторинга процесса селективного лазерного спекания [Текст] / Ю.А. Чивель, Д.А. Затягин, И.Ю. Смуров // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. / МО РФ, СПб ГУИТМО. — С. 70-73.
- Анотація:
Целью работы являются разработка и создание системы оптического мониторинга в режиме реального времени лазерного технологического процесса и интеграция этой системы с системами лазерного технологического комплекса. Контроль процесса селективного лазерного спекания в представленной системе оптического мониторинга основан на измерении максимальной температуры и ее распределения в области спекания методом спектрального отношения с пространственным и временным разрешением, визуализации области спекания с помощью цифровой видеокамеры. Канал визуального контроля позволяет вести непрерывное наблюдение области спекания на поверхности порошковой насыпки и оценивать качество спекаемого изделия.
- Є складовою частиною документа:
Известия высших учебных заведений. Приборостроение. [Текст] / МО РФ, СПб ГУИТМО. — СПб.
- Теми документа