Максимов, С. К.     Особенности , методика и преимущества интегрального метода исследования структур наноразмерных кристаллитов в электронной микроскопии. I. Физические основы метода [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2008. — С. 85-94.