Зведений каталог бібліотек Харкова

 
Пошук Відібрані Опис документа
Початкова сторінка Сайт УФД

Раков, А. В.
    Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе [Текст] / Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН // Измерительная техника  : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 12-14.

- Анотація:

Представлен метод измерения линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе, основанный на использовании первой производной его сигнала. Метод проверен на серийном микроскопе и показал хорошие результаты

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • УДК // Властивості та структура молекулярних систем
  • УДК // Електронні ( катодні ) промені та пов'язана геометрична оптика
  • УДК // Електронно- мікроскопічні методи дослідження/Электронно-микроскопические методы исследования/Electronic and microscopic methods of research



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт