Представлен новый подход к решению проблемы индивидуального прогноза надежности однотипных электронных систем. Вначале выводится выражение, позволяющее подтвердить гипотезу о неравнонадежности однотипных систем. Затем раскрывается новая идея об определении индивидуальных характеристик надежности однотипных электронных систем.