Зведений каталог бібліотек Харкова
Гайдар, Г. П. Термічний відпал радіаційних дефектів в n-Si, опроміненому швидкими нейтронами реактора [Текст] / Інститут ядерних досліджень НАН України // Український фізичний журнал. — 2008. — С. 691-696.
- Анотація:
Термічну стабільність кластерів в n-Si, вирощеному методом Чохральського, дослідженго після опромінення швидкими нейтронами реактора.
- Є складовою частиною документа:
Український фізичний журнал [Текст] // Український фізичний журнал - К. : Інститут фізики НАН України. — 2008.
- Теми документа
