Зведений каталог бібліотек Харкова
Максимов, С. К. Особенности, методика и преимущества интегрального метода исследования текстур наноразмерных кристаллитов в электронной микроскопии. II. Практическая реализация метода [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2008. — С. 47-54.
- Анотація:
Отмечены преимущества от реализации электронографических исследований текстур (ЭИТ) в рамках электронно-микроскопических исследованиях (ЭМИ), превращающие его, по сути, в новый метод с уникальными: локальностью, информативностью и разрешением.
- Є складовою частиною документа:
Известия вузов. Электроника. [Текст] // Известия вузов. Электроника ; Министерство образования РФ, Московский государственный институт электронной техники - М. : МИЭТ. — 2008.
- Теми документа
