Описан метод измерения спектральной плотности дробовых шумов двухполюсников, в частности полупроводниковых диодов, который применим в диапазоне частот до 200 МГц. Получены формулы, устанавливающие связь между спектральной плотностью токовых шумов диода и измеренными коэффициентом шума и коэффициентом передачи контактного устройства с вмонтированным в него диодом
