Исследована роль особенностей аналитического продолжения волнового поля при решении задач дифракции методами нулевого поля и Т-матриц. Показано, что эти методы вполне корректны лишь при условии охвата поверхность, на которой выполняется соотношение нулевого поля, особенностей аналитического продолжения дифракционного поля
